新闻公告_恒温晶振|温补晶振|晶体振荡器|滤波器|时钟模块|OCXO|TCXO|Crystal oscillator|Crystal filter|timing module

[新闻公告]   看懂 OCXO 与 TCXO 的核心差异：稳定度与性能对比

2026-5-20     DEI Blog_05.20.26

OCXO 与 TCXO 在稳定度和性能上差异明显，OCXO 采用恒温控温，具备超高频率稳定度、低相位噪声、优异长期稳定性与强环境适应性，但功耗和成本更高，适用于卫星通信、雷达、高端基站等精密场景；TCXO 依靠温度补偿，功耗低、成本低、体积小，频率稳定度与相位噪声表现中等，更适合 GPS、IoT、移动终端等对功耗和成本敏感的通用场景，二者选型需根据系统精度、环境、功耗与预算综合判断。
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[新闻公告]   PLL锁相环调试实战——突破时钟系统倍频核心难点

2026-5-19     DEI Blog_05.19.26

在芯片时钟系统 Bringup 中，PLL 锁相环调试是继晶振起振后的核心倍频环节，“低频晶振 + PLL 倍频” 也是当前获取高频时钟的主流方案。文章从 PLL 四大核心模块的工作原理入手，解析其从失锁到稳定锁定的完整过程，并围绕环路滤波器、VCO 调谐增益、分频比等关键参数，总结配置顺序、电源噪声、VCO 频率范围、参考时钟质量等常见故障与调试技巧，帮助工程师从原理层面精准定位并解决锁定失败、抖动过大等问题，高效完成时钟系统调试。
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[新闻公告]   晶振振荡异常排查指南——破解芯片Bringup首要瓶颈

2026-5-18     DEI Blog_05.18.26

晶振振荡异常是芯片 Bringup 调试中制约进程的首要瓶颈，常表现为系统无法启动、随机复位等故障，其核心与晶振压电效应、负阻补偿、负载电容匹配等关键因素相关。本文结合晶振振荡机制与工程实战经验，拆解振荡建立条件，梳理按故障概率排序的标准化排查流程，助力工程师快速定位并解决晶振振荡相关问题，保障芯片时钟系统稳定，提升 Bringup 调试效率。
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[新闻公告]   地面气象雷达测试平台的精密授时解决方案

2026-5-15     DEI Blog_05.15.26

地面气象雷达测试与校准需高精度精密授时保障，DOCXO3628AW 100MHz A V（双恒温晶振）与 OCXO3307 10MHz E V（恒温晶振）协同作用，凭借超高频率稳定度、低相位噪声及强环境适应性，分别提供高频超稳输出与可靠参考时基，实现测试平台的频率产生、系统同步与精密校准，保障雷达性能评估的准确性，助力精准气象监测与预报。
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DEI Blog_09.04.23 DEI Blog_03.10.26 DEI Blog_03.13.26 DEI Blog_05.19.26 DEI Blog_10.11.23 DEI Blog_11.05.24 DEI Blog_11.19.24 DEI Blog_03.31.25 DEI Blog_12.24.25 DEI Blog_03.19.25 温补晶体振荡器 PECL DEI Blog_02.12.26 DEI Blog_07.16.24 DEI Blog_04.24.24 DEI Blog_04.10.25 DEI Blog_09.26.23 DEI Blog_03.16.26 DEI Blog_07.21.25 DEI Blog_10.31.25 DEI Blog_12.02.25 High Frequency Low Phase Noise OCXO DEI Blog_08.11.25 低相位噪声、高频率、TCXO 表贴晶振 DEI Blog_01.15.25 DEI Blog_12.11.23 DEI Blog_05.20.24 DEI Blog_01.24.25 低抖动 DEI Blog_02.24.25 DEI Blog_12.19.23