新闻搜索
  • 2026-5-18     DEI Blog_05.18.26
    晶振振荡异常是芯片 Bringup 调试中制约进程的首要瓶颈,常表现为系统无法启动、随机复位等故障,其核心与晶振压电效应、负阻补偿、负载电容匹配等关键因素相关。本文结合晶振振荡机制与工程实战经验,拆解振荡建立条件,梳理按故障概率排序的标准化排查流程,助力工程师快速定位并解决晶振振荡相关问题,保障芯片时钟系统稳定,提升 Bringup 调试效率。
    Read more