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  • [新闻公告]   SC 切晶体较高的 ESR 如何影响相位噪声性能
    2026-6-30     DEI Blog_06.30.26
    SC 切晶体较高的 ESR 会带来热噪声升高、环路增益噪声及自热频扰，对相位噪声存在一定负面影响。但凭借更高 Q 值、优异的应力补偿结构与极低老化特性，SC 切可从根本上压制噪声劣化，结合低噪声电路优化后，整体相位噪声性能全面优于 AT 切，动态环境下频谱纯度更高、长期性能更稳定，是基站、雷达、卫星及精密仪器等低相噪高端应用的优选。
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